Schichtdickenmessung – hochgenau und mit variablem Messgerät

Oberflächen 05. 08. 2018
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Hitachi High-Tech Analytical Science erweitert das Schichtdickenmessgerät X-Strata920 um einen hochauflösenden Detektor

Hitachi High-Tech Analytical Science Corpo­ration (Hitachi High-Tech Analytical Science) ist eine hundertprozentige Tochtergesellschaft der Hitachi High-Technologies Corporation (TSE: 8036); sie entwickelt und vertreibt Analyse- und Messgeräte. Jetzt erweitert sie das Leistungsspektrum des ­bewährten RFA-Schichtdickenmessgeräts X-Strata920 um einen neuen hochauflösenden Detektor und einer neuen Konfiguration für den Probentisch.

Die RFA-Schichtdickenmessgeräte von Hitachi Hitch-Tech werden seit mehr als 40 Jahren erfolgreich in der Elektronik- und Metall­veredelung eingesetzt. Das X-Strata920 stellt sicher, dass Beschichtungen vorgeschriebenen Spezifikationen entsprechen und es minimiert den Ausschuss von Über- oder zu dünnen Beschichtungen. Das erweiterte Leistungsspektrum des X-Strata eröffnet zahlreiche neue Möglichkeiten.

So kann das neue X-Strata für optimale Leistungsfähigkeit benutzerspezifisch angepasst werden – wahlweise mit einem hochauflösenden Silizium-Drift-Detektor (SDD) oder einem Proportional-Zählrohr. Darüber hinaus verfügt das Gerät nun über vier Konfigurationen der Messkammer und Probentische, für eine Vielzahl von unterschiedlichen Probenformen und -größen, wie beispielsweise Proben mit komplexen Geometrien in der Automobilindustrie.

Im Vergleich zu einem Proportional-Zählrohr kann ein SDD-Detektor bei komplexen Beschichtungsstrukturen Vorteile bieten, da er bei Elementen mit ähnlichen RFA-Eigenschaften, wie zum Beispiel bei Nickel und Kupfer, eine einfachere Analyse erlaubt. Damit erweitert sich die Palette analysierbarer Elemente auch um Phosphor, entscheidend für eine Analyse der Schichtdicke im stromlosen Vernickelungsprozess und sorgt für eine genauere Messung dünnerer Beschichtungen wie Gold im Nanometerbereich von IPC-4552A.

Wie Matt Kreiner, Hitachi Product Business Development Manager, betont, ist das X-Strata920, wie auch andere RFA-Geräte von Hitachi High-Tech, bekannt für seine Zukunftsfähigkeit, Zuverlässigkeit und Benutzerfreundlichkeit. Die Ergänzung mit einem SDD-Detektor und die Option eines größeren Probentisches ermöglicht den Kunden umfangreichere Analysen und eine höhere Flexibilität bei der Messung von komplexen Beschichtungen ganz unterschiedlicher Teile. Die intuitive SmartLink Software wurde beibehalten. Ungeachtet seiner Erfahrung kann somit jeder Benutzer die Bedienung des Geräts rasch erlernen und genaue zuverlässige Ergebnisse erzielen. Die Produkte, darunter das moderne Mikrofokus-Analysegerät FT150, RFA-Handgeräte und CMI-Messgeräte, bieten nach Aussage von Matt Kreiner eine schnelle und auch portable Beschichtungsanalyse.

Hitachi High-Tech Analytical Science ist ein neues globales Unternehmen, dass im Juli 2017 innerhalb der Hitachi High-Technologies Gruppe gegründet wurde. Mit Hauptsitz in Oxford, UK, betreibt es Forschung und Entwicklung, Produktion in Finnland, Deutschland und China sowie Vertrieb und Service weltweit.

Die Hitachi High-Tech Gruppe, mit Hauptsitz in Tokio, Japan, ist ein weltweit agierendes Unternehmen mit den folgenden vier Segmenten: Systeme für Wissenschaft und Medizin, Elektronik, Industrie und hochwertige Industrieprodukte. Sie verfolgt die Unternehmensvision Stetiges Streben nach der Führungsposition in Hightech Lösungen und die Mission, den Kunden zu schnellen und innovativen Geschäften zu verhelfen.

  • www.hitachi-hightech.com/hha
 
 

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